Kontaktskjema for Analyser, kurs eller konsultasjon
For detektorer skriv inn detektormodell i detaljer-feltet, eller bruk Kontaktskjema
her
.
Fornavn: *
Etternavn: *
E-post: *
Bedriftnavn: *
Stilling:
Land:
Detaljer
SEM-, EDS-, EBSD-, avbilding og analyser:
Analyser
Fraktografi
Mikrostruktur karakterisering
Avbildning geologiske tynnslip
Kjemiske analyser (X-ray microanalysis, EDS)
Fiber, pulver og/eller partikkelanalyser
Analyser av korrosjonsprodukter
EBSD mikrostrukturkarakterisering
ANNET
SEM- relaterte kurs og hjelp ifm anskaffeler:
Tjenester
Basis teorikurs SEM, EDS eller EBSD
Avansert teorikurs SEM, EDS eller EBSD
Teori- og “hands on” trening SEM, EDS eller EBSD
Konsultasjon ifm anskaffelse av SEM og tilhørende ekstrautstyr
ANNET
SEM produsent og modellnummer:
Produsent
Hitachi
Jeol
Tescan
Thermo Fisher (FEI/Philips)
Zeiss
Coxem
EMcrafts
Hirox
Pemtron
SEC
ANNET
Send hendvendelse